关怀版

2002年第16卷第5期《档案学研究》

光盘寿命的量化研究

周耀林, 吴青丽

出版日期2002-10-28卷期第16卷 第5期页码48-50DOI10.16065/j.cnki.issn1002-1620.2002.05.017浏览次数0

摘要

本文分析了光盘寿命量化研究的困难。然后 ,基于光盘寿命量化研究的可行性分析 ,结合试验及有关文献 ,从老化试验条件、块错误率、埃林模型等方面 ,综合介绍了光盘寿命量化研究的过程。

关键词:光盘寿命研究

引用格式

http://journal12.magtechjournal.com/Jwk_dax/CN/Y2002/V16/I5/48