摘要
从本质上说 ,档案学理论研究水平的高低决定着档案学整体水平高低 ,因而 ,我们对档案学基础理论 ,须有一个精准的定位与认识。本文从档案学基础理论的基本品格及“基础”双重属性———广度与深度两个方面着手 ,针对现状 ,剖析具体存在的问题 ,并就档案学基础理论的发展的“趋同论”作一探讨。
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http://journal12.magtechjournal.com/Jwk_dax/CN/Y2001/V15/I3/3
摘要
从本质上说 ,档案学理论研究水平的高低决定着档案学整体水平高低 ,因而 ,我们对档案学基础理论 ,须有一个精准的定位与认识。本文从档案学基础理论的基本品格及“基础”双重属性———广度与深度两个方面着手 ,针对现状 ,剖析具体存在的问题 ,并就档案学基础理论的发展的“趋同论”作一探讨。
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