1999年第13卷第3期《档案学研究》

光盘耐久性初试报告

尹慧道, 张云, 肖扬芬

出版日期1999-06-28卷期第13卷第3期页码70-71DOI10.16065/j.cnki.issn1002-1620.1999.03.020浏览次数0 次

摘要

目前，光盘的寿命和耐久性问题引起公众的关注。由于光盘采用非接触式记录，排除了接触损伤，同时又在盘面上加盖1毫米厚的保护膜，使光盘表面有较强的抗污染能力，避免了灰尘、手印等污物的影响。因此，光盘的寿命主要取决于记录层的理化性质。记录膜大多由低熔点的金属...

引用格式

尹慧道,张云,肖扬芬. 光盘耐久性初试报告[J]. 档案学研究, 1999, 13(3): 70-71.